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史密斯英特康应对5G时代下高频芯片测试挑战
来源:美通社 添加人:service4 添加时间:2021-9-14

    

史密斯英特康具有六十多年的发展历史,旗下有众多技术品牌,分别是EMC、 RF Labs、Lorch、Hypertac、IDI、TRAK、TECOM、Millitech、Sabritec、HSI和Reflex Photonics。半导体测试品牌IDI无疑在众多技术品牌中占据着战略性发展的核心地位。

史密斯英特康作为半导体测试技术的领先者,凭借专业的工程研发团队,能够提供多样化的解决方案,如WLCSP测试、Strip测试、PoP测试等不同的测试种类及不同的测试平台,产品均基于高质量标准打造而成,已经获得市场的广泛认可,可卓有成效地满足半导体市场的需求。具体产品方面,史密斯英特康近期推出一款用于QFN、QFP、SOIC等封装测试的Joule 20高频测试插座。Joule 20测试插座为苛刻的模拟、RF、通信、消费电子和汽车应用的芯片测试提供一流的电气和机械性能。

Joule 20在此表现不俗。针对在刮擦接触技术中,PCB板的损坏问题对用户来说是一个昂贵的负担。如果pad不能修复,用户可能需要购买一个替换的PCB。低速PCB可能意味着数千美元的额外成本,高速PCB更是意味着数万美元。Joule 20独特的刮擦式接触技术可提供重复可靠的待测件和PCB端接触,它的PCB端的磨损更小,是解决无铅、有铅喷锡和镍钯金pad芯片的理想测试解决方案。同时,为了提高测试插座的清洗和维护效率,Joule 20使用了一个嵌在定位板中的弹性体,它可以从插座的顶部移除。一旦定位板被移除,触点就可以单独或批量地清洗或更换。

其创新的设计结构允许插座体便于拆卸,使得测试座极其易于维护,在设备测试期间仍然可进行清洁和有效维护工作,从而大大减少了设备停机时间并提高测试产量。此外,Joule 20射频测试插座的解决方案适用于几乎所有大于0.30mm pitch的QFN、QFP、SOIC类芯